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学术报告——纳米级抗辐射加固集成电路的挑战

发布日期:2016-06-27 浏览次数:508 作者:文/astro     编辑:审核:

报告题目:纳米级抗辐射加固集成电路的挑战

报告人: 赵元富  研究员

时  间: 6月29日(周三)10:00

地  点: 英国正版365官方网站A03-318会议室

报告摘要:介绍了微电子的发展趋势和抗辐射加固技术的基本概念,分析了纳米级抗辐射加固集成电路的挑战,提出了航天微电子的发展思路。

 

报告人简介:

赵元富,1962年11月生,博士,航天七七二所所长,研究员,博士生导师。长期从事航天微电子研究,是我国集成电路抗辐射加固设计技术研究的倡导者和实践者,为航天元器件自主可控做出了重要贡献。现任IEEE高级会员,航天科技集团公司科技委常委,国防973首席专家,哈尔滨工业大学、南京航空航天大学和北京工业大学兼职博导。享受政府特殊津贴,是百千万人才工程国家级人选,已获省部级国防科技进步一等奖五项,二等奖三项,授权专利二十余项,发表论文一百余篇。
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